Assessing the photometric redshift precision of the S-PLUS survey: the Stripe-82 as a test-case
Molino, A.; Costa-Duarte, M. V.; Sampedro, L.; Herpich, F. R.; Sodre Jr, L.; Oliveira, C. M.; Schoenell, W.; Barbosa, C. E.; Queiroz, C.; Lima, E. V. R.; Azanha, L.; Munoz-Elgueta, N.; Ribeiro, T.; Kanaan, A.; Hernandez-Jimenez, J. A.; Cortesi, A.; Akras, S.; Lopes de Oliveira, R.; Torres-Flores, S.; Lima-Dias, C.; Nilo Castellon, J. L.; Damke, G.; Alvarez-Candal, A.; Pereira, E. B.; Coelho, P.; Jimenez-Teja, Y.; Montero-Dorta, A. D.; Benitez, N.; Goncalves, T. S.; Santana-Silva, L.; Werner, V. S.; Almeida, L. A.; Lopes, P. A. A.; Chies-Santos, A. L.; Telles, E.; Thom de Souza, R. C.; Goncalves, D. R.; de Souza, R. S.; Makler, M.; Buzzo, M. L.; Placco, V. M.; I. , N. L. M.; Saito, R. K.; Overzier, R. A.; Abramo, L. R.
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